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在多相体系中制得了CdSe／ZnS半导体量子点，采用X射线粉末衍射（XRD）、电子透射显微镜（TEM）等测试手段对产物进行了表征，结果表明CdSe／CxtS量子点尺寸均一、形貌规则，具有立方晶体结构。初步研究了此体系的反应机理，并通过紫外-可见吸收光谱和荧光光谱对产物的光学性质进行了分析，结果表明在Cdse量子点外面包覆一定厚度的ZnS壳层后，其激子发射强度和量子效率显著提高。