论文部分内容阅读
本文研究了一个简便，快速的用ＩＣＰ－ＡＥＳＢｉ（Ｐｂ）ＳｒＣａＣｕＰｂＯ，Ｂｉ（Ｐｂ，Ｓｂ）Ｓｒ－ＣａＣｕＯ，Ｂｉ（Ｐｂ，Ｙ）ＳｒＣａＣｕＯ超导体块材及薄膜中Ｂｉ，Ｐｂ，Ｓｂ，Ｙ，Ｓｒ，Ｃａ，Ｃｕ含量的方法。样品溶解在５０％ＨＣｌ及５０％ＨＮＯ３的混合酸中，直接引入等离子体光谱中进行测定。对共存元素的相互干扰及基片成分的干扰进行了研究。分析了大量样品，给出了各组分的挥发情况及Ｐｂ的挥发量与烧结温度