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目的:探讨大脑皮层缺血及再灌流内皮素(ET)、降钙素基因相关肽(CGRP)与神经元凋亡的变化规律及关系.方法:以前脑缺血及再灌流不同时段的大鼠为模型,用放免法检测皮层ET和CGRP含量;TUNEL法检测原位细胞凋亡.结果:缺血后15分,ET低于正常和假手术组;再灌流后进一步降低,12小时达最低水平,6天后恢复.缺血后CGRP升高,再灌流后继续升高,12小时和1天达高峰后下降,6天时恢复正常.缺血后神经元凋亡增加,再灌流后继续增加,1天时达高峰后缓慢下降,8天时基本恢复正常.ET量与凋亡细胞呈负相关.CGR