YBa2Cu3O7—δ薄膜厚度在多层异质结构（Ag／Ba0．1Sr0．9TiO3／YBa2Cu3O7-δ／LaAlO3）中对Ba0．1Sr0．9TiO3介电性能的影响研究

• 作 者: 雍俐培 朱小红 王奉波 彭炜 黎松林 李洁 陈莺飞 田海燕
• 机 构: 四川大学材料科学与工程学院,中国科学院物理研究所超导国家重点实验室
• 出 处: 低温物理学报
• 发表日期: 2005年A01期
• 关键词: 铁电/超导异质结 生长模式 介电性能 可调谐微波器件 Ferroelectric and superconductor heterostructures Gr

铁电／超导（Ba，Sr）TiO3／YBa2Cu3O7-δ异质结在可调谐微波器件方面具有非常好的应用前景．我们采用1．2°斜切LaAlO3基片，以脉冲激光沉积法（PLD）制备出性能较好的Ba0．1Sr0．9TiO3／YBa2Cu3O7-δ（BST／YBCO）异质薄膜．并进一步研究了YBCO薄膜厚度对BST性能的影响．研究发现当YBCO薄膜厚度增加到180nm附近时，其生长模式由二维step-flow转变为三维岛状模式，严重损害了在YBCO上面生长的BST薄膜的介电性能．具体表现在：BST薄膜的介电