高分辨率CCD辐射探测器串扰校正

• 作 者: 周日峰 胡小龙 唐杰 谢东洋 刘瑜川 安康
• 机 构: 工业CT无损检测教育部工程研究中心,重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室,重庆大学机械传动国家重点实验室
• 出 处: 原子能科学技术
• 发表日期: 2021年6期
• 关键词: 辐射探测器 Gd3Al2Ga3O12闪烁体 CCD图像传感器 探测器串扰校正
• 基金项目: 国家自然科学基金重大科研仪器研制项目资助(11827809),国家重大科学仪器设备开发专项资助项目(2013YQ030629)。

近年来出现的新型闪烁体与科学级CCD图像传感器耦合的高分辨辐射探测器,对提高Micro-CT等高分辨成像系统的空间分辨率、信噪比、图像质量等有重要意义,具有广泛的应用前景。但新型闪烁体如Gd₃Al₂Ga₃O₁₂等发光传输的各向同性特性,给μm尺寸的CCD像元带来了严重的串扰噪声,导致辐射探测器系统空间分辨率的实际值与理论值相差甚远。本文理论分析了高分辨率CCD辐射探测器串扰产生的物理机理,提出了利用蒙特卡罗EGSnrc