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随着集成电路工艺进入纳米时代，供电电压波动严重影响电路性能．制造中通孔对位不准，及运行中铜导线电迁移现象，都会在电源线／地线网络（P／G网）中产生大量潜在的开路故障，并使供电电压发生明显波动．为了在测试中对大量的开路故障进行快速测试，迫切需要提高故障分析的算法效率．为此，首次提出了单故障连续过松弛算法（SD—SOR），对发生单开路电阻故障的PIG网节点电压分布进行快速分析．基于无故障P／G网节点电压分布，SD—SOR仅对开路电阻周围受故障影响比较大的少数节点进行松弛计算．与传统的全局S（）R方法相比，SD