Rice Lognormal衰落信道中不同译码度量特性的比较

• 作 者: 殷贯西 王新梅
• 机 构: 西安电子科技大学综合业务网国家重点实验室!西安710071,西安电子科技大学综合业务网国家重点实验室!西安710071
• 出 处: 电子学报
• 发表日期: 1999年10期
• 关键词: 衰落信道 Rice Lognormal 信道状态信息 欧氏距离 错误概率 最小交织深度 信道衰落 导频辅助 维特比译码算法 功率比

本文推导出了ＲｉｃｅＬｏｇｎｏｒｍａｌ 衰落信道中没有信道状态信息和具有信道状态信息两种情况下的最大似然译码度量，并同传统欧氏距离度量的成对错误概率进行了比较．数值计算结果表明：对于ＴＣＭＰＳＫ 方案，信道衰落特征（ｆＤＴ）对度量特性的影响几乎可以忽略．最后，讨论了ＲｉｃｅＬｏｇｎｏｒｍａｌ 衰落信道中的最小交织深度

This paper deduces the maximum likelihood decoding metric of RiceLognormal fading channel without channel state information and channel state information, and compares it with the paired-error probability of traditional Euclidean distance metric. The numerical results show that the influence of channel fading (fDT) on the metric properties is almost negligible for the TCMPSK scheme. Finally, we discuss the minimum interleaving depth in RiceLognormal fading channel