面向ARINC429总线的抗辐照翻转故障测试系统

• 作 者: 薛茜男 王鹏 芦浩 张道阳 李颖 白杰
• 机 构: 中国民航大学天津市民用航空器适航与维修重点实验室
• 出 处: 电子器件
• 发表日期: 2018年1期
• 关键词: 航空电子 单粒子翻转 SRAM 辐照效应 FPGA avionicssingle event upsetSRAMirradiation effectFPGA
• 基金项目: 项目来源:国家自然科学基金委员会与中国民用航空局联合项目(U1333120),天津市自然科学基金联合项目(15JCQNJC42800),中央高校基本科研业务费项目(3122014C025)

大气中的辐射效应是伴随着微电子技术进步而衍生出的新危害,是航空工业部门之前从未遇见的新的技术难题。以SRAM型FPGA所构成的ARINC429航空数据总线作为研究对象,研究其抗翻转故障效果。基于SRAM型器件搭建航空数据总线抗辐照翻转故障测试系统,评价航空器件对辐照效应防护能力。测试实验结果表明,系统能够正确响应不同类型的故障注入并经过表决器输出计算结果,实现对翻转故障加固的有效性的直观评测。