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本篇文章利用X射线荧光光谱法快速的测定了化探样品中主次痕量元素的结果，并进行了探讨。制样方法采用低压聚乙烯镶边垫底的粉末样品压片法，对化探样品中的C、N、Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Sc等多种元素进行分析。对C、N的分析主要是运用RX45和RX61的专用分析晶体方法。采用康普顿散射法和经验系数法作为内标的校正基体效应，使得经标准检验的分析结果和标样值相符合。