新生儿低血糖病例脑损伤的多因素分析

• 作 者: 梁考文 宋海燕 王彬 安振存
• 机 构: 北京市密云县妇幼保健院儿科
• 出 处: 中国妇幼健康研究
• 发表日期: 2010年2期
• 关键词: 新生儿 低血糖 脑损伤 高危因素 neonate hypoglycemia brain injury risk factor

目的探讨新生儿低血糖病例脑损伤的相关因素。方法收集整理新生儿病房住院治疗的低血糖患儿病例资料，分析低血糖患儿脑损伤的发病情况，对导致脑损伤的相关因素进行分析。结果脑损伤的发生率为54.4%，有神经系统症状的低血糖患儿脑损伤发生率明显增加；导致脑损伤的高危因素是长时间的低血糖（〉12h）、伴有围产期缺氧或感染。长时间低血糖患儿脑损伤发生率及重度脑损伤发生率分别为88.2％、58.8％，明显高于短暂性低血糖者（47.7％、5.8％）（χ2=9.41，P〈0.05；（χ2=32.06，P〈0.01）；伴有围产期