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考虑到深中心俘获与发射载流子对自由载流子浓度的影响而对中心俘获过程进行了推导与讨论， 了以瞬态光霍耳谱测量和瞬态光电阻率谱测量为基础的两套新的深能级分析测试手段，并证明了其等效性，用此方法测量样品做结，且对大浓度的深中心也可不做任何修正，尤其适用于缺陷对载流子俘获机制的研究，因而弥补了深能级态谱技术的不足。