论文部分内容阅读
目的寻找预测2型糖尿病(T2DM)和糖耐量减低(IGT)发生的最佳空腹血糖受损(IFG)下限切点及其对代谢状态的影响。方法采用横断面调查的方法对重庆局部地区3189例既往无糖尿病史的自然人群的空腹血糖(FPG)进行ROC分析,绘制ROC曲线,并进行糖脂代谢调查和分析。结果预测T2DM和IGT发生的最佳IFG下限切点ROC曲线下面积分别为0.899和0.728。用FPG来预测T2DM和IGT,其灵敏度及特异度均较好的点分别为5.6mmol/L和5.2mmol/L。在负荷后2h血糖(2hPG)〈7.8mmol