应用几种谱仪测定大量~(242)Cm中的少量~(241)Am

• 作 者: 乔盛忠rrrrrrrrrrn 佟伯庭rrrrrrrrrrn 吕峯rrrrrrrrrrn 朱荣保rrrrrrrrrrn 杨留成rrrrrrrrrrn 徐颖璞
• 出 处: 原子能科学技术
• 发表日期: 1977年04期
• 关键词: 测量灵敏度 线性放大器 杂质 前置放大器 统计涨落 单道分析器 光子符合 准确度 计数率 光子

本文介绍了用Si(Li)谱仪,Ge(Li)谱仪和α-γ符合谱仪测定大量~(242)Cm中少量~(241)Am杂质的方法。描述了三种方法的特点,并比较了它们的测量灵敏度和准确度。

This paper presents a method for the determination of a small amount of ~ (241) Am impurities in a large number of ~ (242) Cm by Si (Li) spectrometer, Ge (Li) spectrometer and α-γ spectrometer. Described the characteristics of the three methods, and compared their measurement sensitivity and accuracy.