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透射电子显微镜成像电子束的相位变化能够提供样品及其周围空间电磁场的信息。一些文献已报道过用相位回复方法研究材料的内势、不同材料间的接触势差、A-B效应以及样品周围空间磁场和电场分布。非干涉性的相位回复方法可以用来研究空间静电场分布问题，其原理是通过记录波传递过程中不同成像平面上的像强度，代入到强度分布传递方程（transport of intensity equation, TIE）中，就可以回复得到出身波相位，进而导出相位与电场分布的关系。