【摘 要】
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本文是一篇关于计算机辅助测试逻辑集成电路的综述性文章。文中分析了测试逻辑集成电路的要求,提出了测试中存在的问题及解决的途径。对于半导体存贮的测试图形,也进行了一些
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本文是一篇关于计算机辅助测试逻辑集成电路的综述性文章。文中分析了测试逻辑集成电路的要求,提出了测试中存在的问题及解决的途径。对于半导体存贮的测试图形,也进行了一些分析,列举了常用的一些测试图形。对国外目前采用的测试微处理器CPU芯片的几种方法和国外测试系统的发展所经历的三代,也作了介绍。
This article is a commentary on computer-aided test logic integrated circuits. In this paper, the requirements of testing logic integrated circuits are analyzed, the problems existing in testing and the solutions are put forward. For semiconductor storage test patterns, but also some analysis, lists some commonly used test patterns. Several methods used to test the microprocessor CPU chips currently used in foreign countries and the three generations experienced in the development of foreign test systems are also introduced.
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