干涉法测量双层树脂基材料内部的压缩位移场分布

• 作 者: 周延周 刘运红 刘羽飞 徐金雄 章云
• 机 构: 广东工业大学自动化学院
• 出 处: 光学精密工程
• 发表日期: 2014年11期
• 关键词: 波数扫描干涉术 树脂基复合材料 压缩位移场 wavenumber-scanning interferometry epoxy composite compres

建立了基于迈克尔逊干涉结构的深度分辨倾斜激光波数扫描干涉测量系统,对双层树脂基复合材料样品的压缩位移场分布进行了测量及分析.首先,采用分布反馈（DFB）半导体激光器对双层树脂基复合材料样品进行波数扫描干涉测量;然后,采用随机采样傅里叶变换（RSFT）计算双层树脂基复合材料样品加载前后的相位差;最后,运用解卷绕算法对材料样品加载前后的相位差进行解卷绕,计算出各表面压缩位移场的分布.实验结果表明,压缩位移场分布的测量精度达到±100 nm,深度方向的轮廓分辨率约为0.41 mm,最大测量深度约为52