【摘 要】
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针对包装质量检测精度易受外界光照影响的问题,在已有基于梯度幅值相似性的缺陷检测算法基础上,将局部二值模式算子引入到该算法中,提出了一种基于改进梯度幅值相似性的缺陷
【机 构】
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天津工业大学电气工程与自动化学院天津市电工电能新技术重点实验室,天津职业技术师范大学机械工程学院,伍伦贡大学电气计算机和通信工程学院,清华大学机械工程学院精密仪器系
【基金项目】
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国家自然科学基金(61078041,51806150);天津市应用基础及前沿计划(16JCYBJC15400,15JCYBJC51700,18JCQNJC04400);天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室开放基金(PIL1603);天津市企业科技特派员项目(18JCTPJC61700);天津市高等学校创新团队培养计划(TD13-5036)