基于Blackman-Harris窗三谱线插值测试ADC信噪比的方法

• 作 者: 虞致国 孙益洲 黄朴 何芹 顾晓峰
• 机 构: 物联网技术应用教育部工程研究中心,江南大学电子工程系
• 出 处: 测试科学与仪器：英文版
• 发表日期: 2017年4期
• 关键词: Blackman-Hars窗 信噪比 加窗插值 频谱泄漏 非相干采样 Blackman-Harris windowed signal to noise rat
• 基金项目: Foundation items:Summit of the Six Top Talents Program of Jiangsu Province (No.2013-DZXX-027), Fundamental Research Funds for the Central Universities (Nos.JUSRP51510, JUSRP51323B), Graduate Student I

利用快速傅里叶变换(FFT)测试模数转换器(ADC)的信噪比(SNR)必然存在非相干采样，导致测量结果会受频谱泄漏的影响。针对此问题，提出了一种利用Blackman-Hams窗三谱线插值测试高速ADCSNR的方法。基于MATLAB构建了验证平台，采用美国模拟器件公司（ADI)的AD9627等高速ADC产品的行为级动态模型进行了仿真验证。结果表明，在非相干程度最大的情况下，基于Blackman-Hars窗三谱线插值测试得到的SNR误差低于0.23dB，达到了ADI公司提供的测试标准，证明该法能很好地抑制频谱