时代民芯自主开发读卡器芯片测试仪

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目前,时代民芯宣布读卡器控制芯片进入量产阶段,为方便用户测试样品,读卡器项目组通过对自身实力的细致评估,决定自主开发一款芯片测试仪,该款测试仪既要能够全面测试时代民芯公司的读卡器芯片,也要支持现有绝大多数读卡器(u盘)的测试。经过硬件系统确认、软件设计、系统测试以及外观设计四个阶段,读卡器项目组自主开发完成的15台“民芯测试仪”全部测试合格,并已交付客户使用。(来自时代民芯)
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