上海原子核研究所的6MV串列静电加速器质谱计及其应用

• 作 者: 程晓伍 刘联璠 赖伟全 斯厚智 盛树刚 易惟熙 周慰囡 张维
• 机 构: 中国科学院上海原子核研究所,中国科学院地球化学研究所
• 出 处: 核技术
• 发表日期: 1993年8期
• 关键词: 加速器质谱计 溅射源 质谱仪 Accelerator mass spectrometry Sputtering ion source Auxiliary Far

<正> 加速器质谱计(AMS)是70年代末发展起来的超微量分析技术,它与常规质谱计比较,可以利用某些元素不能形成负离子的性质和将待测同位素加速至较高能量(～MeV/A)用粒子鉴别器排除同质异位素的干扰,并在剥离器将分子离子破裂成原子离子,然后被电磁元件排除。它与测量放射性方法比较,具有探测效率较高、不需要对样品作放化提纯、对非放射性同位素也同样有效等优点。因此它具有灵敏度高(10~(-12)