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超高频(UHF)RFID标签制造商Tageos宣布在奥本大学RFID实验室完成ARC项目产品测试.EOS-400产品通过了零售环境相关的所有11项用例测试.其独特的制造工艺消除了蚀刻RFID产品中塑料载体层的需要,从而简化了制造.与传统的RFID标签相比,该工艺可减少50%的胶水和塑料的需求.ARC测试结果显示,该工艺对性能无任何影响.