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提出一种基于可靠性预计数据的星载电子产品老练试验加速因子的估计方法.在该方法中,温度对产品失效过程的影响通过器件失效率预计模型中的温度应力参数予以刻画.通过比较产品在工作环境温度与老练试验温度下的预计失效率数据来估计老练试验加速因子.该方法简单、易行,含义明确,有望增强可靠性评估结果与可靠性预计结果的可比性.