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本文分析圆柱ＴＥ０１１模端盖对称隙缝特性。在隙缝辐射较小的条件下，提出适于损耗小，厚度薄（１ｍｍ左右）的片状材料腔外微扰的近似计算方法，测得聚四氟乙烯、聚氯乙烯、纯陶瓷片等复介电常数与准确值相当吻合的结果。测得相同厚度的片状半导体材料电阻率（≥２０Ω·ｃｍ），与１／ＱＬ有线笥关系，与提出的近假方法所预期结果一致，理论分析和实验表明，应用圆柱ＴＥ０１１模端兽对称隙 可实现无接触、高精度、多功能测量片