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利用ＡＦ峄在（１００）和与（１００）有６°切有的ＳｒＴｉＯ３基片上用射频溅射方法制备的高温超导Ｂｉ２Ｓｒ１．６Ｌａ０．４ＣｕＯ６＋δ（Ｂｉ２２０１）薄膜的生长模式进行了系统地研究。对应以上两类不同切割的基片，实验观察到两种不同的薄膜生长模式，对切偏角小于０．４°的（１００）ＳｒＴｉＯ３基片，本征的生长模式是梯田岛模式 层的厚度为ｃ／２；在切偏角为６°的衬底上沉积的Ｂｉ２２０１薄膜则以台阶流模式生长