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来源 :液晶与显示 | 被引量 : [!--cite_num--]次 | 上传用户:[!--user--]
【摘 要】
:
利用水热的方法制备了ITO透明导电薄膜,通过正交试验设计研究镀膜工艺因素对薄膜光电特性的影响规律。试验结果表明:影响薄膜光电性能的主要因素是前驱物浓度,其次是氨水浓度和
【作 者】
:
职利
徐华蕊
周怀营
【机 构】
:
桂林电子工业学院信息材料科学与工程系
【出 处】
:
液晶与显示
【发表日期】
:
2006年5期
【关键词】
:
ITO薄膜
水热法
正交试验
ITO thin films ; hydrothermal method
orthogonal experiment
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