超高频无源RFID系统中Capture效应建模与分析

• 作 者: 李波 王俊宇 魏鹏 奚经天
• 机 构: 复旦大学,专用集成电路与系统国家重点实验室,上海,201203香港物流及供应链管理应用技术研发中心,香港
• 出 处: 小型微型计算机系统
• 发表日期: 2011年02期
• 关键词: Capture效应 射频识别 Capture模型

针对超高频无源射频识别(RFID)系统中Capture效应的分析问题,提出一种新颖的Capture模型-RFIDCap,并通过Monte-Carlo仿真分析了各系统参数对Capture效应的影响,同时比较了RFIDCap及其他传统模型与测试结果的符合程度.RFIDCap综合考虑了读写器抗干扰能力、无线信道损耗及衰落、标签反向散射等因素.仿真结果表明,读写器capture阈值、碰撞标签数量及标签位置是影响capture概率的主要因素.测试结果表明,实测数据与RFIDCap仿真值的均方误差小于3%,相对