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本文利用反射式谐振腔,通过测量放入样品前后谐振腔反射系数的变化,确定介电常数虚部ε″和磁导率虚部μ″。研究了样品形状和放在谐振腔不同位置对介电常数和磁导率测量的影响。测量系统有较高的灵敏度。通过提高谐振腔的品质因数和使谐振腔接近临界耦合,并适当减小谐振腔的体积,使系统测量损耗角正切达到10-5数量级并不困难。