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目的分析新生儿低血糖脑损伤的磁共振成像（MRI）特点及磁共振弥散加权成像技术（DWI）优势。方法回顾性分析临床诊断为低血糖脑病的25例患儿的磁共振成像常规T1、T2及DWI表现。结果 T1表现异常12例,表现为受累皮质稍高信号,皮层下低信号。T2表现异常17例,表现为受累部位低或高信号,皮髓界限不清。受累部位包括双侧顶枕叶皮质及皮质下白质22例,右侧枕叶皮层6例,左侧颞叶后部皮层下白质2例,胼胝体10例,内囊后肢3例。25例脑损伤患者中24例DWI可见异常。3个月后3例复查MRI,2例为双侧顶枕叶萎缩表现