应用于不同类型FPGA的多模式调试系统

• 作 者: 李文昌 万理 阮爱武 宋子健 于敦山
• 机 构: 北京大学信息科学技术学院,电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室
• 出 处: 电子科技大学学报
• 发表日期: 2014年5期
• 关键词: 调试 现场可编程门阵列 可视性 Scan模式 Snapshot模式 debugging field programmable gate arrays obser

随着超大规模集成电路（VLSI）以及片上系统（SoC）设计的日益复杂，基于现场可编程门阵列（FPGA）的硬件仿效成为了必要环节。为解决逻辑设计下载到基于FPGA的硬件仿效器后内部节点不可视的问题，提出一种调试系统，该调试系统使用了RTL级植入调试逻辑的调试方法，统一的用户界面和软件侧底层接口，并提供了ELA模式、Scan模式和Snapshot模式。所有模式均使用统一的外部接口，使得调试系统同时适用于Altera和Xilinx的FPGA。实验结果表明，与SignalTap和ChipScope模式相比，ELA