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V-mask累积和控制图虽然能够有效地监控过程中发生的微小偏移，但是因为它需要存储大量统计量且计算时间较长，所以在计算机中实施起来比较困难。为了解决这一问题，介绍了将控制点方法论应用于V-mask累积和控制图这一方法，并通过实例来进一步说明。结果表明，与控制点方法论结合的控制图减少了存储量，缩短了计算时间，而且将在顾客满意度控制中得到广泛应用。