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厚胶光刻工艺技术
厚胶光刻工艺技术
来源 :电子元器件应用 | 被引量 : 0次 | 上传用户:songzs1203
【摘 要】
:
通过对Ma-P100正性厚胶光刻技术的研究,初步解决了厚胶工艺易出现的胶的均匀性问题,厚胶长时间曝光工艺,用普通曝光机获得了厚度为60μm,分辨率为20μm的厚胶图形。
【作 者】
:
孙丽玲
【机 构】
:
西安微电子技术研究所
【出 处】
:
电子元器件应用
【发表日期】
:
2003年2期
【关键词】
:
厚胶光刻工艺
抗蚀剂
Ma-p100
曝光工艺
集成电路
Photolighograph
Resist
Process
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通过对Ma-P100正性厚胶光刻技术的研究,初步解决了厚胶工艺易出现的胶的均匀性问题,厚胶长时间曝光工艺,用普通曝光机获得了厚度为60μm,分辨率为20μm的厚胶图形。
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