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论述了用光学渡超辐射对强流短脉冲束团的能谱进行测量的理论和方法。探讨了利用单膜装置、双膜装置或多膜装置产生的光学渡超辐射进行束流能谱测量的方法，并针对２０ＭｅＶ电子感应直线加速器能散为０．５％的电子束能谱测量作了一些计算以得到的部分装置设计参数。计算表明：应用渡越光栅谱仪选择合适的膜片厚度及时间距，对于给定的电子能谱，可以得到大的能量接受度和好的能量分辨率。然而，要用大量的膜片是困难的，而且还有许