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室温测量了（Ｂｉ２－ｘＰｂｘ）Ｃａ２．５Ｎｄ０．５Ｃｕ２Ｏ８＋ｙ超导体的正电子寿命与Ｐｂ含量的关系。在２２１２相发现随着Ｐｄ含量的增加正电子体寿命相应地减小，分析表明，这是由于Ｐｂ替换了Ｂｉ，使电子从Ｃｕ－Ｏ面或其它晶位迁移到Ｂｉ－Ｏ层，并导致Ｂｉ－Ｏ层电子密度增加所致。
掺Pb超导体（Bi2—xPbx）Ca2.5Nd0.5Cu2O8＋y的正电子寿命研究
【摘 要】
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室温测量了（Ｂｉ２－ｘＰｂｘ）Ｃａ２．５Ｎｄ０．５Ｃｕ２Ｏ８＋ｙ超导体的正电子寿命与Ｐｂ含量的关系。在２２１２相发现随着Ｐｄ含量的增加正电子体寿命相应地减小，分析表明，这是由于Ｐｂ替换了Ｂｉ，使电子从Ｃｕ－Ｏ面或其它晶位迁移到Ｂｉ－Ｏ层，并导致Ｂｉ－Ｏ层电子密度增加所致
【机 构】
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陕西师范大学
【出 处】
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核技术
【发表日期】
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1995年2期
【基金项目】
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陕西省自然科学基金
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