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目的
制备银纳米颗粒涂层薄膜材料并检测其抗菌性。
方法利用脉冲激光沉积法（PLD）将银-二氧化硅薄膜种植在衬底硅片表面，根据不同的激光脉冲沉积速率制备3组薄膜材料样品，其银与二氧化硅的含量比分别为1∶3(Type A）、1∶1(Type B）、3∶1(Type C）设为实验组，纯硅片设为对照组。使用扫描电子显微镜（SEM ）、能量色散光谱仪（EDS）、原子力显微镜（AFM）对实验组样品进行物理表征，选用临床标准菌株金黄色葡萄球菌和大肠杆菌作为实验菌株进行样品体外抗菌试验。
结果制备的3种样品Type A、Type B和Type C应用EDS测定银纳米颗粒的含量分别为19.29%、65.32%、77.18%。SEM显示，实验组样品中银纳米颗粒镶嵌于二氧化硅的骨架结构中，结构清晰。AFM显示3种样品Type A、Type B和Type C表面粗糙度良好，银纳米颗粒的大小分别为10.8、11.9和12.9 nm。抗菌实验显示，接种大肠杆菌的培养基中3种样品Type A、Type B和Type C的抑菌环直径分别为11、15、16 mm，接种金黄色葡萄球菌的培养基中3种样品的抑菌环直径分别为15、16、17 mm，所制备的银纳米颗粒涂层薄膜材料均显示出抑菌作用；对照组没有出现抑菌环。
结论应用PLD方法制备银纳米颗粒抗菌薄膜材料简单易行，且材料具有良好的抑菌作用。