明胶与Ag^＋相互作用的XPS研究

• 作 者: 李东芹 黄碧霞 岳军 周涛
• 机 构: 中国科学技术大学
• 出 处: 感光科学与光化学
• 发表日期: 2004年3期
• 关键词: 照相明胶 AG^+ X射线光电子能谱 photographic gelatin Ag~+ X-ray photoelectron spectroscopy
• 基金项目: 美国Norland Product Inc 和乐凯胶片集团公司资助项目

X射线光电子能谱(XPS)技术是一种高灵敏、高分辨的元素定性定量和结构分析技术.本文用该技术研究了照相明胶中S原子与Ag+相互作用的本质.研究结果表明,照相明胶中的蛋氨酸、蛋氨酸亚砜残基均能通过S原子与Ag+作用,而且在所研究的明胶中蛋氨酸亚砜残基的含量远高于蛋氨酸残基的含量,这意味着在与Ag+键合过程中前者占有更重要的地位.此外,本文还比较了不同原料制成的明胶与Ag+的作用情况.