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简要叙述了LASIS光谱成像系统的原理和仪器构成，针对LASIS光谱成像仪像方视场与干涉数据单边过零采样的要求，通过对实体Mach-Zehnder横向剪切干涉仪结构和光路进行分析，并对比Sagnac型横向剪切干涉仪的结构，研究了该干涉仪的附加光程差与加工误差的关系，给出了附加光程差公式和误差容限公式，对探测器阵面上光程差变化的非线性效应影响进行了分析和仿真。结果表明，相比Sagnac型横向剪切干涉仪，因实体M ach-Zehnder干涉仪的非共光路特点产生的附加光程差会导致探测器上的零光程位置的偏移，为保