钼阴极表面电子流的HRTFEM观察

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扫描隧道显微镜(STM)、原子力显微镜(AFM)及场离子显微镜(FIM)及其相关技术的发展,使人们能在原子级别上来进行物质表面的研究,可以获得表面形态的几何信息,对表面电子态、表面动力学等方面研究仍缺乏有力的研究工具。我们在E.M.Müller发明的场电子显微镜(FEM)[1-2]的基础上发 The development of scanning tunneling microscope (STM), atomic force microscope (AFM) and field ion microscope (FIM) and related technologies has enabled people to study the surface of matter at the atomic level and obtain the geometrical information of the surface morphology. State, surface dynamics and other aspects of the research is still a lack of powerful research tools. We are based on the field electron microscopy (FEM) invented by E.M. Müller [1-2]
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