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本文测定了Cu、Cu-Te、Ca-Se、Cu-Te-Se-Fe、Cu-Cr等触头材料在300～1600K温度范围内的耐电压强度。测定结果表明,对于不同的触头材料,存在不同的临界温度。并用扫描电镜观察了在高温下被击穿触头材料的表面形貌,根据观察到的形貌特点和Langmuir空间电荷方程讨论了温度对耐电压强度的影响。更多还原