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典型的杂波图恒虚警检测技术常被用于时域平稳、空域变化较剧烈的杂波环境。它在每个杂波图单元处都形成一个独立的检测阈值，于是被称为杂波图ＣＦＡＲ点技术。而沈福民提出了一种杂波图ＣＦＡＲ平面技术的构想。这是一种在时空两维变化都比较平稳的杂波环境情况下尤为适用的杂波图ＣＦＡＲ检测技术，我们将其称为面技术。本文具体推导了这种技术在时空两维都均匀的背景中的检测性能表达式，并同杂波图点技术的性能进行较细致的分析