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对一系列双外延结样品的１／ｆ噪声进行了系统的研究．发现就其两个主要来源而言，由磁通线无规运动带来的噪声可以忽略而由热涨落产生的噪声居支配地位．在１．３～７５Ｋ温度范围内测量了样品的Ｉ－Ｖ曲线和Ｉ－Ｖｎ（噪声电压）曲线，并用热激活相滑模型拟合，由此的出的归一化的噪声谱密度ＳＩｃ０／Ｉｃ（０）２及ＳＲｎ／Ｒｎ２呈现不同的随温度变化趋势．用相敏检测技术进一步证实了来自Ｉｃ涨落与Ｒｎ涨落的噪声信号不相关联，支持了关于超导电流与正常电流在Ｊｏｓｅｐｈｓｏｎ结中各有不同渠道的假说．由上述实验数据计算出超导和正常渠道中