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采用以电子探针为主要手段对硒光导膜表面缺陷进行了研究，结果表明硒膜表面斑点区富集有含硫为主的杂质元素，有些还包裹了非硒微粒，讨论了斑点缺陷的形成机制。微量杂质硫在硒膜和原料中均存在不均匀分布，它是造成硒感光鼓斑点缺陷和表面剩余电位高的主要原因。
硒光导膜表面缺陷的电子显微分析
【摘 要】
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采用以电子探针为主要手段对硒光导膜表面缺陷进行了研究，结果表明硒膜表面斑点区富集有含硫为主的杂质元素，有些还包裹了非硒微粒，讨论了斑点缺陷的形成机制。微量杂质硫在硒膜
【机 构】
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武汉工业大学材料研究所测试中心
【出 处】
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无机材料学报
【发表日期】
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1996年1期
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