NI成功主办第七届“中国PXI技术和应用论坛”——构建以软件为核心的模块化测试系统架构，展望2010自动化测试发展趋势

• 出 处: 国外电子测量技术
• 发表日期: 2010年07期
• 关键词: PXI技术 自动化测试 美国国家仪器有限公司 测试系统 主办 发展趋势 INSTRUMENTS 论坛

美国国家仪器有限公司(National Instruments,简称NI)于2010年5月28日在深圳成功主办了第七届“中国PXI技术和应用沦坛”(PXI Technology & Application Conference,即PXITAC),吸引了400多位相关领域的

National Instruments (NI) successfully hosted the 7th PXI Technology & Application Conference (PXITAC) in Shenzhen on May 28, 2010 to attract More than 400 related fields