Ho^3＋掺杂Ge-Ga-S-CsI玻璃中红外发光性能研究

• 作 者: 朱军 戴世勋 彭波 徐铁峰 王训四 章向华
• 机 构: 宁波大学信息科学与工程学院,中国科学院西安光学精密机械研究所瞬态光学与光子技术国家重点实验室,法国雷恩I大学玻璃与陶瓷N家实验室
• 出 处: 无机材料学报
• 发表日期: 2010年5期
• 关键词: 中红外发光 硫系玻璃 钬离子 mid-infrared luminescence chalcogenide glass Ho3＋-ion
• 基金项目: 国家自然科学基金（60878042 60978058）, 中国博士后基金（2008043204）, 浙江省自然科学基金（Y407253）, 中国科学院和宁波大学王宽诚幸福基金

采用熔融冷却法制备了系列不同Ho3＋离子掺杂浓度的Ge-Ga-S-CsI玻璃样品,测试了样品的折射率、吸收光谱以及中红外荧光光谱和Ho3＋离子5I6能级荧光寿命.应用Judd-Ofelt理论计算了Ho3＋离子在该基质玻璃中强度参数Ωi（i=2,4,6）、能级跃迁振子强度fcal、自发跃迁几率Arad等光谱参数.计算了Ho3＋：5I5→5I6（3.86μm）和5I6→5I7（2.81μm）跃迁的多声子驰豫速率.讨论了中红外荧光特性与Ho3＋离子掺杂浓度之间的关系.结果表明,在900nm激光泵浦下观察到了2.