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本研究工作的主要内容为:在分析总结现有珠光体平均片层间距测量和计算方法的基础上,推导出新的计算公式:,并设计出新的测量方法——割线法。它的特点在于:1.计算公式是根据割线法取样统计规律推导出来的,因此测量方法与测量的统计原理严格吻合;2.测量方法简单,计算方便。该方法同样适用于任何金相组织平均片层间距的测量。研究工作还对测量结果的修正问题作了进一步探讨。