基于EEG高阶过零分析的脑损伤检测新方法

• 作 者: 邱天爽 X.Kong 等
• 机 构: 大连理工大学电子与信息工程学院,DepartmentofElectricalEngineering
• 出 处: 中国生物医学工程学报
• 发表日期: 2003年1期
• 关键词: 脑电图 脑损伤检测 高阶过零检测 缺氧窒息 Electroencephalography Neurology Patient treatment Signal
• 基金项目: 国家自然科学基金，辽宁省科技计划

目的:提出基于高阶过零(HOC)的方法并利用EEG检测由于缺氧窒息而引起的中枢神经系统损伤及对损伤程度进行定量评估.方法:采用两种基于HOC的方法,一种为依据EEG信号序列统计分布特性的HOCSD(S距离)法,另一种为依据预处理后EEG信号的谱特性的HOCCF法.结果:对三类实验样本进行了检测,检测结果与神经缺欠值(NDS)的相关性高达96%.结论:实验数据分析表明,两种基于HOC的新方法对于检测由于缺氧窒息而引起的中枢神经系统损伤及对损伤程度进行定量评估具有一定的意义.