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利用椭偏仪和光谱仪研究了结晶程度对Ge2Sb2Te5相变薄膜光学常数的影响。当初始化仪转速固定时，随激光功率的增加，折射率基本随之减小，消光系数逐渐增大，透过率逐渐减小；当激光功率固定时，随转速的增大，折射率也随之增大，消光系数随之减小，透过率逐渐增加。非晶态与晶态间的变换、薄膜微结构的变化（包括原子间隙合状态的变化）以及薄膜内残余应力是影响Ge2Sb2Te5相变薄膜复数折射率的主要原因。测量了CD－RW（可擦重写光盘）中Ge2Sb2Te5薄膜非晶态和晶态的反射率。