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利用余弦变换获取三维物体面形的技术已得到了应用。但该技术在测量高度梯度（垂直光栅方向）变化率较大的物体时会产生误差，高度梯度变化率大到某一值时，将不再合适。为此采用余弦光栅能较好地解决这一问题，它可将测量范围扩大到原来的３倍。从理论上证明了将物体高度变化率大一面朝光栅放置，可以进一步拓宽余弦变换法的测量范围，以文中的系统为例，其扩大倍数可达到原来的５７倍，远大于３倍。