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Rietveld方法是研究晶体结构和微结构的有效方法,但不同的数据处理将直接影响Rietvel方法所给出的结果。该文研究了数据处理中高角数据截取Rietveld方法结果的影响不同的结构参数对高角数据截取有不同的灵敏度,一般的结构参数在常规衍射角范围就能取得较好的结果,但对轻原子体系和晶胞参数的准确确定,需要在计算中引入一定的高角衍射数据。