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在X射线荧光分析中,当工体效应严重时,工作曲线变得很复杂,仅用一条曲线来拟合,误差较大,为此,采用的分段的方法,将工作曲线分成四段,逐段拟合,取得了很好的效果。拟合工作曲线时,所使用的铂钯合金标样,由X射线微探针(XRMF)测试。此外,我们还用这种方法,分析了标样薄片中元素分布的均匀性水平。