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自动光学检测(AOI)已成为PCB检测的主要方式,线路板微小缺陷检测对于AOI系统是严峻的挑战。研究线路板微小缺陷的成像问题。运用成像理论,研究了欠采样条件下微小缺陷的成像特点,分析了缺陷尺寸与像素分辨率的比例及采样相位对成像的影响,并进行了实验验证。该研究对PCB AOI系统的设计和检测性能分析有重要意义。